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本系统适用于温度补偿振荡器TCXO的自动数据补偿及测试。
系统流程


1. 适用IC:AKM的AK2177C-8、AK2197,和NPC的CF5042A1。
2. 适用产品:5032、3225、2520、2016总共4种尺寸SEAM封装(VC)TCXO。(可客制)
3. 适用SOCKET:上项产品适用的的MiS SOCKET。
4. 适用温箱:S&A的4365MRorESPEC CORP MC810。

1.独特的算法,补偿精度高。
2.根据用户的制程经验,用户可以任意设置补偿温度点、检验温度点,温度点数无限制。
3.界面简洁,操作方便。
4.参数设置灵活。
5.自动完成补偿、刻录、检验、不良品报告。
6.所有数据存入数据库,补偿结果输出到EXCEL。
良品率为98%



1.工作温度范围:-40℃~85℃。
2.根据客户选择的S&A4365S-2温箱,最多可容纳两个框架,每个框架最多可放10片补偿测试板,每个测试板有64个位置(最大产量为1280颗/批次)。
3.温度稳定度:参照温箱规格。
4.温度均匀度:参照温箱规格。
5.升温时间以及降温时间:参照温箱规格。
6.频率测量精度:优于0.1PPM(测量精度指相同测试条件下,测试板上同一测量位置重复测量的精度)。
7.补偿精度:一次补偿合格率优于75%(产品须符合IC的补偿所需规格)。
8.在AKM公司的IC及产品Package本身的特性相同的情况下,同一片补偿测试板上互相兼容.
9.补偿系统可以对测试频率进行修正。
10.补偿系统的频率测试范围:见IC资料。
11.测试系统采用测试座逐个手动测试,具有频率调整功能。

使用4365MR 温箱,温度点七点-30度C到+85度C,IC NPC 5042, 满炉1280pc,一个循环时间约7个小时。


