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石英振荡器Aging系统
已选择:
CXP 10pin D-type
类型: CXP
CXP 12pin A-type
类型: CXP
CXP 6pin
类型:
台湾 TC-1280 TCXO 补偿烧录系统
类型: 温度补偿烧录
X2220
类型: 音叉治具
XCB-C00
类型: 晶片手动量测治具
BP-003
类型: 晶片手动量测治具
XB-TF-1000K-S
类型: 音叉測頭
XB-TF-1000K
类型: 音叉測頭
XB-TF-1000K-PBA
类型: 音叉測頭
晶片量測載板BP-003
类型: 晶片量測載板
X3+Socket
类型: 250B轉接板(測試座式)
250B轉接板(特殊型)
类型: 250B轉接板(特殊型)
XB-011-A00+PCB
类型: 250B晶振引腳型測頭零件
XB-A01 12.5 Ohm SMD 測頭
类型: 250B晶振SMD測頭
XBO-C01
类型: 250B晶振SMD測頭零件
X8-A01 49S DIP Socke
类型: 晶振引腳型溫測圈零件
X8-254 雙排晶振測試環(254工位)
类型: 晶振引腳型溫測圈
XB-011-A00
类型: 晶振引腳型測試治具
XB-B00 12.5 Ohm DIP 測頭
类型: 250B晶振引腳型測頭
XpiS-A16
类型: 晶振量測探針板
XPIS-A15
类型: 終檢機晶振量測PI頭
7051FTB-XTAL-PBA
类型: 晶振量測PI板
X1-TF-TH
类型: 音叉治具
NS01-A00
类型: W2200溫測盤支撐架
X5+Socket
类型: 測試座含轉接板
X280B
类型: 280B 鐘振轉接座
X411-Series
类型: W2800鐘振溫度特性測試盤
X1-Series
类型: W2200 晶振溫度特性測試盤
X1-80 Serie
类型: W2200 晶振溫度特性(測試座式)測試盤
X41-64+X5-A00
类型: W2800鐘振溫度特性測試盤(測試座式)
X4(1)-Series
类型: W2800鐘振溫度特性測試盤
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